綜合概述

本儀器是一臺整合了原子力顯微鏡（AFM，Atomic Force Microscope）、光學顯微鏡與激光拉曼光譜儀的優良設備，是三者技術的無縫結合。可以分別利用原子力顯微鏡和拉曼光譜儀對納米材料表面形貌、顆粒度、粗糙度和拉曼光譜性能進行表征、分析，從而對樣品提供更加全面的信息，同時可以提供銳利的顯微圖像。這樣的集成，能讓用戶提高工作效率，將更多的時間用于數據采集和分析，而無需為繁瑣的儀器操作而苦惱，真正實現樣品的原位檢測分析。

ATRA8300系列將顯微鏡及拉曼光譜儀兩者的優點結合。顯微拉曼檢測平臺使得"所見即所測"成為可能，可視化的精確定位拉曼檢測平臺，使得觀測者可以檢測樣品上不同表面狀態的拉曼信號，并可在計算機上同步顯示所檢測位置的微區形態，極大便利了拉曼微區檢測。ATRA8300配備專門為拉曼系統設計的物鏡，使得激光光斑接近衍射極限，再通過500萬相機將焦點信息準確直觀的顯示在電腦上。克服了普通的拉曼系統中收集拉曼信號的焦面稍高于或稍低于實際最佳焦面的問題，從而提高拉曼光譜質量。

ATRA8300無光路切換運動部件，所有光學部件均固態裝配，工作非常穩定，解決了相機成像時光路的損失，實現了相機成像與拉曼信號收集的分離，從而得到最佳的信號強度。同時，ATRA8300使用專門為顯微拉曼系統優化的高性能拉曼，無論是靈敏度，信噪比，穩定性等，都是行業前沿水平，為拉曼研究提供了強有力的保障。

產品特點

• 多功能：顯微原子力、顯微拉曼、顯微成像；
• 同時具備光學二維測量和原子力顯微鏡三維測量功能
• 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，結構非常穩定，抗干擾性強
• 精密探針定位裝置，激光光斑對準調節非常簡便
• 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，使針尖垂直于樣品掃描
• 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品
• 超高倍光學定位系統，實現探針和樣品掃描區域精確定位
• 集成掃描器非線性校正用戶編輯器，納米表征和測量精度優于98%
• 全自動拉曼實驗，自動對焦，自動掃描；
• 超高靈敏度，性噪比>6000:1
• 真共焦，保證更精準的拉曼圖像
• 軟件控制切換光路
• 快速定位，迅速找到焦點位置
• 高質量物鏡，光斑微米級
• 500萬相機，圖像清晰精準
• 激發波長：532、633、785、830、1064nm可選
• USB2.0接口直連電腦

應用領域

• 納米粒子與新材料
• 高校、科研院所
• 生物科學
• 法醫學鑒定